產(chǎn)品展示
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HLY-A接觸回路電阻測(cè)試儀采用開(kāi)關(guān)電源輸出、精度高、體積小、重量輕、液晶顯示方式，適用于不同工作環(huán)境采用進(jìn)口優(yōu)質(zhì)元器件，抗干擾能力強(qiáng)。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：738
GD3180B接觸回路電阻測(cè)試儀采用100A/200A恒流輸出。Z高輸出電壓達(dá)10V可采用載面細(xì)的測(cè)試線(xiàn)，大大減輕了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。測(cè)試過(guò)程全部由單片控制自動(dòng)實(shí)施，精度高，復(fù)測(cè)性好，簡(jiǎn)單易行，測(cè)試數(shù)據(jù)液晶顯示，結(jié)果打印。適用于不同的工作環(huán)境
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：815
HDHL-100A便攜式接觸（回路）電阻測(cè)試儀的詳細(xì)介紹按新《電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》要求，各種開(kāi)關(guān)設(shè)備導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量，其測(cè)試電流不得小于100A。對(duì)此我廠按新規(guī)程要求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出新一代智能回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品，該產(chǎn)品適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值，高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：680
LDHL-600B智能回路接觸電阻測(cè)試儀是用于測(cè)量開(kāi)關(guān)、斷路器、變壓器等設(shè)備的接觸電阻、回路電阻的測(cè)試設(shè)備。其采用典型的四線(xiàn)制測(cè)量法，通過(guò)輸出一個(gè)直流電流，施加于被測(cè)體的兩個(gè)端鈕之間，并測(cè)量電流流過(guò)被測(cè)體所產(chǎn)生的壓降，然后通過(guò)電壓和電流之比得出被測(cè)體的直流電阻。主要由恒流源、前置放大器、A/D轉(zhuǎn)換器、指示裝置等部分組成。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：899
SHL-100型回路（接觸）電阻測(cè)試儀用于電力系統(tǒng)、電器制造廠及科研機(jī)構(gòu)等單位測(cè)量各種高、低壓開(kāi)關(guān)、電纜、電線(xiàn)及焊縫的接觸電阻。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：634
BJ8842C型接觸回路電阻測(cè)試儀使用說(shuō)明：目前，接觸電阻的測(cè)量電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋，而這類(lèi)電橋的測(cè)試電流僅m*，難以發(fā)現(xiàn)回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷，在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受觸頭之間油膜和氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，無(wú)法真實(shí)的反映接觸電阻值。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：721
XED3280B接觸回路電阻測(cè)試儀適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值，高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等 采用100A恒流輸出。Z高輸出電壓達(dá)10V（常規(guī)儀器的2-3倍）可采用載面細(xì)的測(cè)試線(xiàn)，大大減輕了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。測(cè)試過(guò)程全部由單片控制自動(dòng)實(shí)施，精度
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：621
XED3280A接觸回路電阻測(cè)試儀適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值，高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等。測(cè)試過(guò)程全部由單片控制自動(dòng)實(shí)施，精度高，復(fù)測(cè)性好，單按鍵操作，簡(jiǎn)單易行，測(cè)試數(shù)據(jù)液晶顯示。適用于不同的工作環(huán)境。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：620
WAHL-100AL回路接觸電阻測(cè)試儀采用開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，得到良好的測(cè)試結(jié)果。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：634
CT2120回路接觸電阻測(cè)試儀根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 — 1996 》的要求，各種開(kāi)關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試，其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大，在大電流流過(guò)時(shí)，接觸點(diǎn)溫度升高，這更加速接觸面氧化，使接觸電阻進(jìn)一步增大，持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故，因此有必要經(jīng)常或定期對(duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
更新時(shí)間：2024-08-19 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：607
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